Dou S.X., Pan A.V., Pysarenko S.V., DOWNING S.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, fabrication, YBCO, microstructure, critical caracteristics, critical current density, thickness dependence
International J Modern Physics B, 2009, v.23, N 17, p.3526-3531
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.